設計公差有兩種:一階和方法和平方和方法。它們在計算上的區別是:
(1)一階和只加各尺寸公差的數字部分；
(2)平方和是每個尺寸公差的數字部分的平方和，取其平方根的1.5倍。
一次方求和是比平方求和法更嚴格的驗證方法。如果一階求和的結果是OK，那么只要使用具有OK繪圖公差的零件進行裝配，就不會出現問題。為了使一階和法的結果可以，視情況而定，有時會增加零件成本或放大產品，導致商品減少，達不到客戶的滿意。因此，考慮到公差和工程能力之間的平衡，我們必須確保經濟的設計質量。統計概率論實際可能造成的最壞規模的計算方法是:
用這種方法設計出來的次品概率是0.00068%，即7ppm，每百萬個產品中有7個不合格。
如圖2和圖3所示，在汽車音響內部單元的設計中，機芯用支架固定，然后一起固定在內部單元中。通常，定位孔用于將它們固定在一起。在定位孔的設計中，采用平方求和法，利用以下公差計算工具設計定位孔的尺寸。
第二，通過cpk控制零件尺寸
定位孔的設計尺寸可以用工程能力(cpk)來管理，即在該批零件中測量一定數量的定位孔直徑，計算cpk。監控該子部件的cpk是否滿足設計初始階段的期望值。當cpk不滿意時，及時分析原因，解決問題。
①工程能力指數:Cp
②考慮中心值偏差的工程能力指數:Cpk對工程能力指數的管理標準，新產品Cpk≥1.67，成熟產品Cpk≥1.33。
綜上所述，利用六西格瑪的思想，結合西格瑪和次品率進行產品的尺寸公差設計。然后，為零件供應商管理零件尺寸的工程能力指數(cpk)。當某一批次的Cpk不合格時，我們可以及時發現，及時分析原因，解決問題點，在生產加工前攔截潛在的不良品。大大降低了因缺陷產品返修帶來的成本增加，為企業贏得了效益。
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